期刊文章详细信息
利用IDDQ技术测试CMOS器件
IDDQ Testing in CMOS Digital Devices
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]航天511所
年 份：2001
卷 号：20
期 号：z1
起止页码：36-37
语 种：中文
收录情况：JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊
摘 要：早在1960年,IC制造者利用I_(DDQ)技术测试器件是否存在功耗过大的问题。现在,I_(DDQ)成为CMOS电路故障检测的重要项目,已广泛用于测试功能测试所不能发现的制造过程所产生的故障。I_(DDQ)和功能测试相结合,可大大改善故障覆盖率,提高测试的有效性。
关 键 词：IDDQ测试 缺陷 故障 功能测试
分 类 号：TM930.12]
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