期刊文章详细信息
IEEE 1149.1标准与边界扫描技术
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中国电子科技集团公司第58研究所,江苏无锡214035
年 份：2003
卷 号：3
期 号：5
起止页码：40-47
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：本文首先分析了集成电路可测性设计的必要性,接着介绍了边界扫描的基本结构、IEEE1149.1标准及指令寄存器、数据寄存器,分析了边界扫描的工作过程,介绍了基本的扫描寄存器结构,最后给出了系统集成可测性设计的策略。
关 键 词：IC 可测性 边界扫描 内建自测试 系统集成
分 类 号：TN43]
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