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期刊文章详细信息

表面活性剂浓度对纳米介孔SiO2薄膜结构的影响  ( EI收录)  

Influence of surfactant concentration on the structures of the mesoporous SiO2 films

  

文献类型:期刊文章

作  者:姚兰芳[1,2] 杜梅芳[2] 吴兆丰[1] 吴广明[1] 沈军[1] 王珏[1]

机构地区:[1]同济大学,波耳固体物理研究所,上海,200092 [2]上海理工大学,理学院,物理系,上海,200093上海理工大学,理学院,物理系,上海,200093同济大学,波耳固体物理研究所,上海,200092同济大学,波耳固体物理研究所,上海,200092同济大学,波耳固体物理研究所,上海,200092同济大学,波耳固体物理研究所,上海,200092

出  处:《功能材料》

基  金:国家高技术863计划资助项目(AA8420522002);上海市纳米科技与产业发展促进中心资助项目(0159nm039);上海市科委中法合作项目(02SL001);

年  份:2004

卷  号:35

期  号:z1

起止页码:2969-2972

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:利用溶胶-凝胶技术,在酸性条件下,采用十六烷基三甲基溴化氨(CTAB)为表面活性剂,正硅酸乙酯为硅源,以及二次去离子水,盐酸为催化剂等原料制备前驱体溶胶.利用表面活性剂与硅源水解后形成的聚集体相互作用,在溶液中形成分子自组装体,通过简单提拉迅速蒸发溶剂等方法制备二氧化硅-表面活性剂纳米介孔薄膜.分析了表面活性剂浓度对薄膜相结构的影响,发现表面活性剂浓度的变化,对薄膜的微结构和性能都有影响,通过调节表面活性剂的浓度可以对该纳米薄膜的微观结构和性能等进行控制,对样品进行了红外光谱,X射线衍射结构分析,原子力显微镜观察表面形貌.

关 键 词:介孔薄膜 二氧化硅 表面活性剂

分 类 号:O469] TB34]

参考文献:

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同被引文献:

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