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期刊文章详细信息

使用排队论模型对FIFO深度的研究  ( EI收录)  

Study FIFO's depth based on queue-theory model

  

文献类型:期刊文章

作  者:宋宇鲲[1] 王锐[1] 胡永华[1] 高明伦[1]

机构地区:[1]合肥工业大学微电子设计研究所,合肥230009

出  处:《仪器仪表学报》

基  金:国家自然科学基金(60373076);国家自然科学基金(60576034)

年  份:2006

卷  号:27

期  号:z3

起止页码:2485-2487

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:长期以来FIFO研究偏重于降低单元间传输延时,所建立的模型不能满足对其它参数研究的要求。特别是FIFO深度,一般依靠设计者经验给出,尚未有理论上的解决方案。当可重构技术应用日趋成熟,可重构系统芯片功能可由应用工程师最终确定时,FIFO深度选取问题更加突出。针对上述问题,本文提出了一种基于排队论的新型FIFO模型,使用该模型探讨了FIFO深度问题,阐述了FIFO深度的理论含义,并给出了FIFO深度理论计算公式。

关 键 词:排队论 FIFO深度  FIFO模型  可重构系统芯片  

分 类 号:TH7-55[仪器类]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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