期刊文章详细信息
电子故障红外检测研究 ( EI收录)
Infrared Check Research on Electronic Failure
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]装甲兵技术学院电子工程系电子技术教研室,长春130117 [2]装甲兵技术学院控制工程系电气自动化教研室,长春130117
年 份：2006
卷 号：19
期 号：z1
起止页码：121-122
语 种：中文
收录情况：AJ、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、普通刊
摘 要：电子电路故障检测一直是人们不懈研究的一个课题,目的是如何快速的将电子元件发生故障的部位迅速检测出来。文中所研究的问题就是利用红外成像的原理,对发生故障的电路进行热成像对比,从而判断故障部位,实现电路故障的快速检测。
关 键 词：红外线 热成像 检测 扫描
分 类 号：O434.3]
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