期刊文章详细信息
双绞线间串扰分析
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京交通大学电子信息工程学院抗电磁干扰研究中心,北京,100044 北京交通大学电子信息工程学院抗电磁干扰研究中心,北京,100044
年 份：2004
卷 号：24
期 号：z1
起止页码：72-75
语 种：中文
收录情况：ZGKJHX、普通刊
摘 要：用一个简单的等效电路分析了UTP(未屏蔽双绞线)间容性耦合的产生机理.用FEKO对UTP进行了建模仿真,仿真结果和实测数据近似,分析得到了线间串扰与线间距离、绞距、频率、终端电阻之间的近似关系.
关 键 词：非屏蔽双绞线 串扰 容性耦合
分 类 号：TM153+.5]
参考文献：
正在载入数据...
二级参考文献：
正在载入数据...
耦合文献：
正在载入数据...
引证文献：
正在载入数据...
二级引证文献：
正在载入数据...
同被引文献：
正在载入数据...
