期刊文章详细信息
航天电子抗辐射研究综述 ( EI收录)
Radiation Hardness for Space Electronics
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中国空间技术研究院北京控制工程研究所,北京100080
年 份：2007
卷 号：28
期 号：5
起止页码：1071-1080
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20081211161685)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：辐射是影响航天电子设备高可靠长寿命运行的重要因素,是当前航天电子技术的研究重点。首先介绍了造成各种辐射效应的空间辐射环境,以及总剂量、单粒子、位移损伤和航天器带电等辐射效应的内在物理原理;然后,综述了当前最新的抗辐射措施、辐射试验方法、抗辐射加固保障等技术,最后指出抗辐射研究的方向。
关 键 词：航天电子 辐射效应 抗辐射加固 抗辐射加固保障
分 类 号：V443]
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