会议论文详细信息
基于IEEE Std 1149.7的TAPC及其在SoC测试的应用
文献类型：会议
作者单位：桂林电子科技大学电子工程与自动化学院CAT研究室 541005
会议文献：第二十届全国测试与故障诊断技术研讨会论文集
会议名称：第二十届全国测试与故障诊断技术研讨会
会议日期：20110800
会议地点：贵阳
主办单位：中国计算机自动测量与控制技术协会
出版日期：20110800
语 种：中文
摘 要：随着微电子技术进一步发展和SoC设计复杂性的提高，SoC测试逐渐成为瓶颈;针对SoC测试的现状和IEEE Std1149.1的不足，本文利用IEEE Std1149.7的最新功能，通过设计一个芯片级的TAPC接口，在兼容IEEE Std1149.1的同时，实现对芯片内多个TAP的控制，从而对串行拓扑和星型拓扑的IEEE Std1149.7封装的IP核实现有效测试。
关 键 词：微电子技术 SOC测试 TAPC接口 设计方法 控制结构
分 类 号：TN407]
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