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会议论文详细信息

电子产品辐射发射的抑制       

文献类型:会议

作  者:沙斐

作者单位:北京交通大学抗电磁干扰研究中心

会议文献:首届国际电子测试与测量专业研讨会论文集

会议名称:首届国际电子测试与测量专业研讨会

会议日期:20031119

会议地点:上海

主办单位:中国电子仪器行业协会

出版日期:20031119

语  种:中文

摘  要:电子电气设备在正常工作时,同时向周围空间辐射电磁骚扰,可能影响其它设备的工作。为此很多国家标准都规定了对电磁发射的测量方法和限值,例如GB9254、GB4824、GBl3837等分别规定了信息技术设备、工科医设备、电子测量仪器、声音和电视广播接收机等设备的辐射发射限值。在辐射发射测量中很多设备的骚扰场强往往在某些频率段超过限值,因此制造商迫切需要了解超标的原因以及应采取的措施。通常设备的辐射发射可由两部分组成:一部分是设备内部的电磁能量通过机箱泄漏;另一部分是设备的连接线作为天线辐射电磁能量。本文分别对其进行了介绍。

关 键 词:电子电气设备 电磁发射测量  辐射发射抑制  电子测量仪器 辐射发射限值  电磁能量  

分 类 号:TN03] TM930]

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引证文献:

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同被引文献:

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