文献类型：会议

作　　者：朱静 钟虓(龙天) 宋东升 王自强 于荣

作者单位：清华大学北京电子显微镜中心、材料学院、先进材料教育部重点实验室、新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室,中国北京,100084

会议文献：中国物理学会2016年秋季会议论文集

会议名称：中国物理学会2016年秋季会议

会议日期：20160901

会议地点：北京

主办单位：中国物理学会

出版日期：20160901

语　　种：中文

摘　　要：随着纳米磁学、多铁材料与自旋电子学的迅速发展,在纳米尺度上表征材料的局域磁结构与性能信息对于理解并设计磁性材料与器件至关重要.然而,在复杂材料体系的局部区域中获得磁结构与性能是富有挑战性的.常规的高空间分辨的磁成像技术是具有原子尺度分辨率的磁交换力显微学与自旋极化扫描隧道显微学,这些方法都是表面测量技术,难以测量材料内部的磁性能,且无法获得磁圆二色性谱.X射线磁圆二色性谱(X-ray Magnetic Circular Dichriosm,XMCD)技术通常在几十个纳米到亚微米尺度上可获得具有元素分辨的磁圆二色谱,具有优异的能量分辨率和信噪比,但空间分辨率较差.在高空间分辨测量材料磁矩方面,传统的透射电子显微学(Transmission Electron Microscopy,TEM)方法是洛伦兹电子显微技术和电子全息技术,目前这两种技术空间分辨率最高可达到1nm,但只能给出材料内部净磁矩信息,无法实现原子分辨和元素分辨,不能区分自旋磁矩和轨道磁矩.

分 类 号：O48] O4[物理学类]