会议论文详细信息
内部多余物检测技术
文献类型：会议
作者单位：信息产业部电子第五研究所(广州)
会议文献：中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会论文集
会议名称：中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会
会议日期：20020901
会议地点：银川
主办单位：中国电子学会
出版日期：20020901
语 种：中文
摘 要：文章主要通过多余物的危害性引出了目前我国对空腔元器件内部多余物的检测技术,介绍了多余物检测的项目,同时简单概括了多余物的鉴别和控制方法.
关 键 词：多余物 检测 空腔元器件 粒子碰撞噪声检测 X射线检测
分 类 号：TN306] TN406
参考文献：
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引证文献：
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同被引文献：
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