会议论文详细信息
可测试设计多重描述与成本评价策略
文献类型：会议
作者单位：太原理工大学计算机科学与技术系
会议文献：电子测量与仪器学报 第14卷增刊
会议名称：全国第六届电子测量与仪器学术报告会
会议日期：20001101
会议地点：太原
主办单位：中国电子学会
出版单位：中国电子学会
出版日期：20001101
出 版 地：北京
语 种：中文
摘 要：本文提出了一种用于智能选择可测试设计技术的多重描述和成本评价方法,多重描述将拓朴描述、基于规则集描述和分层规则集描述集成为一体,用于表示设计电路所需的各种信息.成本评价函数将不同的属性值统一成单一的数值分,用于表示可测试设计技术的优劣,而没有使用归一化因子,规则模型已用C++语言实现.
关 键 词：拓朴描述 规则集描述 分层规则集描述 成本评价 电路设计 可测试设计
分 类 号：TP206.1]
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