会议论文详细信息
快沿电磁脉冲(FREMP)对器件及单元电路的实验研究
文献类型：会议
作者单位：核技术研究所(西安)
会议文献：第九届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集
会议名称：第九届全国核电子学与核探测技术学术年会
会议日期：19980921
会议地点：大连
主办单位：中国电子学会;中国核学会
出版单位：中国电子学会
出版日期：19980921
出 版 地：北京
语 种：中文
摘 要：该文首先对FREMP对分立器件和集成电路以及单元电路的实验规范做了介绍。重点阐述FREMP对电子元器件、集成电路以及单元电路的损伤效应，给出了实验结果，并与FREMP损伤效应进了比对。
关 键 词：电磁脉冲 器件 操作效应 实验研究
分 类 号：O441.4] TN407[物理学类]
参考文献：
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引证文献：
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同被引文献：
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