文献类型：会议

作　　者：王广甫 李旭芳 初钧晗 于令达 安坤 吴冰冰

作者单位：射线束技术与材料改性教育部重点实验室,北京师范大学核科学技术学院,北京 100875 北京市辐射中心,北京 100875 射线束技术与材料改性教育部重点实验室,北京师范大学核科学技术学院,北京 100875

会议文献：第十三届高功率粒子束暨第八届全国高压加速器学术交流会论文集

会议名称：第十三届高功率粒子束暨第八届全国高压加速器学术交流会

会议日期：20120822

会议地点：贵阳

主办单位：中国物理学会

出版日期：20120822

语　　种：中文

摘　　要：在北京师范大学GIC4117 串列加速器上建立了外束PIXE/PIGE 分析系统,并介绍了基于此系统的薄样品外束PIXE/PIGE 定量分析方法.给出了2010 年采集在Teflon 滤膜的361 个气溶胶样品外束PIXE 分析各元素的平均探测限和最低探测限,并同真空PIXE 分析探测限进行了比较.利用标准样品给出了激发曲线不同坪区薄样品外束PIGE 分析F 和Na 的探测限,19F(p,p’γ)19F 激发的197keV 的γ射线分析19F 的探测限可达73.9 ng·cm-2;23Na 元素探测限可达198.9 ng·cm-2.

关 键 词：外束  PIXE/PIGE  探测限

分 类 号：TL52]