会议论文详细信息
文献类型:会议
作者单位:电子科技大学物理电子学院应用物理系 电子科技大学物理电子学院应用物理系 电子科技大学物理电子学院应用物理系 重庆邮电大学光电工程学院应用物理研究所
基 金:Project supported by the Foundation of Science Committees Chongqing(2005BB4070);The Foundation of Education Committees of Chongqing(050502)
会议文献:第六届中国功能材料及其应用学术会议论文集(7)
会议名称:第六届中国功能材料及其应用学术会议
会议日期:20071100
会议地点:中国湖北武汉
主办单位:重庆仪器材料研究所;中国仪器仪表学会仪表材料分会;国家仪表功能材料工程技术研究中心
出版单位:国家仪表功能材料工程技术研究中心、中国仪器仪表学会仪表...
出版日期:20071100
学会名称:中国仪器仪表学会仪表材料分会
语 种:中文
摘 要:用第一性原理的自旋密度泛函理论计算了 Sn 和 Pb 吸附在 Ni(111)((3)×(3))R30°表面的几何构型和功函变化.能量计算表明 Sn 和 Pb 吸附在 Ni(111)((3)×(3))R30°表面形成的最稳定相均是替代吸附,并不存在类似于 Sb 吸附于 Cu(111)((3)×(3))R30°和 Ag(111)((3)×(3))R30°表面时形成的层错现象,验证了以前的实验结果.对于 Sn 和 Pb 吸附在 Ni(111)((3)×(3))R30°表面形成的最稳定表面合金相,表面弛豫效应都不明显,皱褶幅度分别为0.0548和0.0987nm,都比硬球模型所预言的小,表明 Sn-Ni 和 Pb-Ni 金属键含有大量的共价键成分.计算所得的几何参数与实验符合得很好.Sn 和 Pb 在 Ni(111)((3)×(3))R30°表面吸附前后的功函变化值分别为 0.38和0.433eV,表示电荷均从底物移向吸附物.
关 键 词:密度泛函理论 表面合金 锡化镍 铝化镍 层错 功函变化
分 类 号:O647.31]
参考文献:
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二级参考文献:
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耦合文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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