会议论文详细信息
一次传递样品238U、232Th活度测定比对及对以往一些环境辐射调查的联想
文献类型：会议
作者单位：清华大学工程物理系核技术研究所 中国原子能科学研究院
会议文献：第十三届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集（下册）
会议名称：第十三届全国核电子学与核探测技术学术年会
会议日期：20061000
会议地点：中国陕西西安
主办单位：中国电子学会;中国核学会核电子学与核探测技术分会
出版日期：20061000
学会名称：中国核学会
语 种：中文
摘 要：本文报告了一个刻度源及测量对象都是采用传递样品方式进行的实验室间γ分析比对。文中特别对外源性X射线干扰的影响进行了研究和较详细的叙述。此外,本工作还对影响比对结果的其它因素也做了讨论,它明确指出,那些受外源性特征X射线干扰的特征γ峰不应该被用来测定样品的γ放射性活度。最后,本文还对以往的一些环境辐射调查阐述了一些联想。
关 键 词：238U 232Th γ-射线 Γ谱 比对 X-射线 干扰
分 类 号：X837]
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