会议论文详细信息
分析仪器电路自动测试系统的开发
文献类型：会议
作者单位：杭州电子科技大学系统集成技术研究所
会议文献：全国冶金自动化信息网2009年会论文集
会议名称：全国冶金自动化信息网2009年会
会议日期：20090500
会议地点：中国北京
主办单位：全国冶金自动化信息网;《冶金自动化》杂志社
出版单位：《冶金自动化》杂志社
出版日期：20090400
学会名称：《冶金自动化》杂志社
语 种：中文
摘 要：提出基于Lab view应用程序的自动测试系统的构建及其实现方案,并结合分析仪器电路的特点在硬件上通过引入自动测试工装板以实现自动测试系统在硬件的通用性,在软件上通过将被测数据以整体表格的形式加载运行,使自动测试程序与被测数据实现模块化分离,更进一步提高整个测试系统的通用性和可扩展性。
关 键 词：分析仪器 PCI 自动测试 Lab VIEW
分 类 号：TH703[仪器类]
参考文献：
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引证文献：
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同被引文献：
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