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会议论文详细信息

推扫型干涉成像光谱仪去除条带非均匀性的方法研究       

文献类型:会议

作  者:曹玮亮 廖宁放 崔德祺 谭博能

作者单位:北京理工大学光电学院颜色科学与工程实验室

基  金:国家863项目资助(2006AA12Z124);国家资源卫星应用中心:高光谱成像仪数据处理软件

会议文献:中国光学学会2010年光学大会论文集

会议名称:中国光学学会2010年光学大会

会议日期:20100823

会议地点:中国天津

主办单位:中国光学学会

出版日期:20100823

学会名称:中国光学学会

语  种:中文

摘  要:入射狭缝是采用推扫工作原理的干涉成像光谱仪的重要零部件,由于边缘加工误差导致的狭缝宽度不均匀性,使复原图像上出现了平行于推扫方向的非均匀性条带,严重影响了复原后的图像质量和光谱精确度。本文根据条带产生于狭缝宽度不均匀的原理,提出了运算简便的校正系数法,在干涉图上去除非均匀条带,并根据实际处理效果,提出了使用实际均匀景物图像对实验室内获取的校正系数进行修正的方法,取得了良好的去除非均匀性条带效果。

关 键 词:推扫  干涉成像光谱仪 狭缝 去除条带  

分 类 号:TH744.1]

参考文献:

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二级参考文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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