文献类型：会议

作　　者：李红丽 杨忠 蔡文琴 Lawrence 李泽桂

作者单位：[1]第三军医大学组织学与胚胎学教研室 [2]重庆市神经科学研究所 [3]香港城市大学生物及化学系基因芯片应用中心

会议文献：解剖学杂志——中国解剖学会2002年年会文摘汇编

会议名称：中国解剖学会2002年年会

会议日期：20020000

主办单位：中国解剖学会

出版单位：解剖学杂志社

出版日期：20020000

学会名称：中国解剖学会

语　　种：中文

摘　　要：既往对神经管关闭缺陷（neural tube closure defect,NTCD）的研究多集中于观察单个基因的变化,目前已发现体内F、转录因子Ap-2或Sp基因等的突变或缺失可造成NTCD的发生。然而NTCD发生时,体内诸多基因是怎样协同变化,目前尚未见国内外文献报道。本实验采用维甲酸（RA）诱导神经管缺陷模型,应用基因芯片技术从整体上初步了解参与NTCD发生的基因表达图

关 键 词：相关基因 基因芯片 神经管缺陷 维甲酸

分 类 号：R346[基础医学类]