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会议论文详细信息

SDH/MSTP设备的静电软击穿故障现象分析       

文献类型:会议

作  者:苗新 葛宁

作者单位:[1]北京华环电子股份有限公司 [2]北京华环电子股份有限公司

会议文献:全国第十二次光纤通信暨第十三届集成光学学术会议论文集

会议名称:全国第十二次光纤通信暨第十三届集成光学学术会议

会议日期:20051100

会议地点:中国广东四会

主办单位:中国光学学会纤维光学与集成光学专业委员会;中国通信学会光通信委员会;中国电子学会通信学分会

出版单位:暨南大学出版社

出版日期:20051100

学会名称:中国通信学会

语  种:中文

摘  要:本文介绍了静电的产生及其危害,讨论了静电故障现象分析、静电测量与试验及其防护,对SDH/MSTP设备的静电软击穿故障现象进行研究探讨。

关 键 词:静电危害 静电软击穿  SDH/MSTP设备  

分 类 号:TM83]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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