会议论文详细信息
失效连接器触点表面的SEM和EDS分析
文献类型：会议
作者单位：北京邮电大学自动化学院电接触科研室 北京邮电大学自动化学院电接触科研室
基 金：国家自然科学基金(No.50277002)
会议文献：第十三届全国电子显微学会议论文集
会议名称：第十三届全国电子显微学会议
会议日期：20040800
会议地点：中国威海
主办单位：中国物理学会
出版日期：20040800
学会名称：中国物理学会
语 种：中文
摘 要：＜正＞ 对某失效通信设备的分析表明,电子连接器的接触故障是其失效的主要原因之一。本文利用SEM和EDS分析故障连接器的接触表面,结合接触电阻测试结果,对其失效机理进行讨论。
分 类 号：TM503.5]
参考文献：
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引证文献：
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同被引文献：
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