科技成果详细信息
厚膜HIC在高低温条件下失效机理分析
文献类型：成果
完成单位：机械电子工业部第四十三研究所
项目年度编号：92216664
公布年份：0
成果类别：应用技术
应用行业：电子器件制造
联系单位：机械电子工业部第四十三研究所
语 种：中文
成果简介：该研究旨在提高ＨＩＣ产品的质量与可靠性。研究中，应用先进的分析手段，通过各种高低温试验，电子能谱分析、转靶Ｘ射线衍射分析、扫描电镜分析和红外热象分析等，获得了满意的数据与结果；摸清了厚膜功率ＨＩＣ中功率电阻和导体随温度变化的规律；分析了高低温条件下引起电阻与导体失效的内在原因；提出了改善可靠性的技术措施，并已在厚膜功率ＨＩＣ的研制中得到了应用。采用该措施，可有效地减少失效，提高成品率，降低成本，具有较高的经济效益。
关 键 词：HIC 厚膜功率
分 类 号：TN4]
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