文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN200610062366.7

申 请 日：20060830

发 明 人：仇建

申 请 人：北京兆日科技有限责任公司

申请人地址：100088 北京市海淀区知春路6号锦秋国际大厦B座4层

公 开 日：20090318

公 开 号：CN100470680C

代 理 人：王永文

代理机构：44268 深圳市君胜知识产权代理事务所

语　　种：中文

摘　　要：本发明公开了一种对集成电路关闭内部功能的实现方法，其包括以下步骤：A、在集成电路芯片工作模式下向其非易失存储器里的预定单元中，写入一个预先定义的特征值；B、所述集成电路内部相关功能电路采用分级复位，在分级复位的过程中强制逐个验证所述非易失存储器预定单元中是/否是预定的特征值，以打开/关闭对应的功能/模式。本发明方法通过在存储区域内存储的特定特征值，实现在上电复位时的不同的功能的选择性关闭，从而增强了芯片的安全性，并且针对不同情形实现了集成电路的永久选择性设置。

主 权 项：1、一种对集成电路关闭内部功能的实现方法，其包括以下步骤：A、在集成电路芯片工作模式下向其非易失存储器里的预定单元中，写入一个预先定义的特征值，所述特征值不是非易失存储器测试用数值；B、所述集成电路内部相关功能电路采用分级复位，在分级复位的过程中强制逐个验证所述非易失存储器预定单元中是/否是预定的特征值，以打开/关闭对应的模式；所述分级复位的过程是：B1、在上电复位过程中，检测到所述非易失存储器的预定单元里的数据是第一模式的特征值，置该第一模式为有效；B2、在所述集成电路芯片上电复位结束后，向所述非易失存储器预定单元中写第二模式的特征值；B3、当所述集成电路芯片再次上电复位时，检测到所述非易失存储器预定单元中的第二模式特征值，所述集成电路芯片就工作在第二模式。

关 键 词：集成电路 非易失存储器 特征值 复位 分级  集成电路芯片 特定特征值  存储区域  工作模式  内部功能  上电复位 相关功能  预先定义  电路 存储  芯片 验证  内部  

IPC专利分类号：G11C16/22(20060101);G06F21/00(20060101)