登录    注册    忘记密码

专利详细信息

平面几何形状的识别方法及装置       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN200810102194.0

申 请 日:20080319

发 明 人:曾培祥

申 请 人:北大方正集团有限公司 北京方正奥德计算机系统有限公司

申请人地址:100871 北京市海淀区成府路298号中关村方正大厦513

公 开 日:20090923

公 开 号:CN101539999A

语  种:中文

摘  要:本发明公开了一种平面几何形状的识别方法,属于模式识别领域的基础技术范畴。该方法包括:求取目标平面几何形状的特征信息并保存;选择至少一个目标平面几何形状的特征信息,构建识别目标集;求取待识别平面几何形状的特征信息;将待识别平面几何形状的特征信息与识别目标集中的每一个目标平面几何形状的特征信息按循环排序关系,利用特征点信息进行相似性分析处理,并将判定的识别结果输出。本发明还公开可一种平面几何形状的识别装置,包括:目标特征信息提取模块、目标集创建模块、待识别特征信息提取模块,及识别模块。本发明特征信息求取方法简单,计算量大幅度减少,具有统一的识别规则和快速准确的识别效果。

主 权 项:1、一种平面几何形状的识别方法,其特征在于,包括以下步骤:a、求取目标平面几何形状的特征信息并保存,所述特征信息至少包含一组特征点信息;b、选择至少一个目标平面几何形状的特征信息,构建识别目标集;c、求取待识别平面几何形状的特征信息,所述特征信息至少包含一组特征点信息;d、将所述待识别平面几何形状的特征信息与所述识别目标集中的每一个目标平面几何形状的特征信息按循环排序关系,利用特征点信息进行相似性分析处理,并将判定的识别结果输出。

关 键 词:平面几何形状  特征信息 求取 模式识别领域  目标特征信息  特征信息提取 相似性分析  基础技术  识别装置  循环排序  计算量 特征点

IPC专利分类号:G06K9/52(20060101);G06K9/46(20060101)

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心