文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN201010285713.9

申 请 日：20100917

发 明 人：袁晨 严伟

申 请 人：上海北京大学微电子研究院

申请人地址：201203 上海市浦东新区张江高科技园区盛夏路608号

公 开 日：20110119

公 开 号：CN101949989A

语　　种：中文

摘　　要：本发明提出了一种在不同波长条件下LED漏电流的测试方法，该方法在恒温条件下，将待测LED接入TLP测试系统，通过幅度连续可调的矩形短脉冲进行作用，实现对其漏电流的检测。为提高测试精度，排除不同形状、不同位置光源的影响，在本发明的一个实施例中引入积分球。当光束进入积分球后，经多次漫反射，就形成一个理想的漫射源。这样就可以消除光源带来的干扰，也可以消除待测LED受光面的不均匀性带来的影响。

主 权 项：1.一种不同波长下发光二极管漏电流测试方法，其特征在于，包括步骤：在恒温条件下，将待测发光二极管接入TLP测试系统；通过幅度连续可调的矩形短脉冲进行作用，实现对其漏电流的检测。

关 键 词：积分球 漏电流 波长条件  不均匀性 测试方法  测试精度  测试系统 恒温条件  位置光源  漫反射 脉冲  受光  光源 排除  干扰  检测  

IPC专利分类号：G01R31/02(20060101);G01R31/26(20060101);G01R19/00(20060101)