专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:发明专利
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN200910220050.X
申 请 日:20091120
申 请 人:沈阳仪表科学研究院 沈阳汇博光学技术有限公司
申请人地址:110043 辽宁省沈阳市大东区北海街242号
公 开 日:20121219
公 开 号:CN102072810B
代 理 人:郭元艺
代理机构:21107 沈阳亚泰专利商标代理有限公司
语 种:中文
摘 要:本发明属光学测试领域,更具体地说,涉及一种滤光片信噪比积分测量方法,可按如下步骤实施:a、利用光源(1)照射待测滤光片(2);b、通过光电探测器(4)接收步骤a所述待测滤光片(2)的透过信号及噪声信号;c、步骤b所述透过信号及噪声信号经模数转换后送入中央处理部分进行计算、处理;d、处理结果以信噪比OD值的形式加以显示;所述步骤d中信噪比OD值为:OD=-lg((S<Sub>t</Sub>-S<Sub>n</Sub>)/S<Sub>n</Sub>)。本发明通过在待测滤光片(2)与光电探测器(4)间加入截止型滤镜得到噪声信号;所述截止型滤镜(3)的透射和截止特性与待测滤光片(2)的光谱特性相反。本发明操作简单、检测精度高、数据可靠且易于硬件配套。
主 权 项:1.滤光片信噪比积分测量方法,其特征在于,按如下步骤实施:a、利用光源(1)照射待测滤光片(2);采用光源(1)照射所述待测滤光片(2)的整个通光范围;所述光源(1)为卤钨灯光源;b、通过光电探测器(4)接收步骤a所述待测滤光片(2)的透过信号及噪声信号;噪声信号通过在待测滤光片(2)与光电探测器(4)间加入的截止型滤镜(3)得到;所述截止型滤镜(3)的透射和截止特性与待测滤光片(2)的光谱特性相反;所述透过信号为所述待测滤光片在整个探测范围的透过信号;所述噪声信号为滤光片截止区域的透过信号;c、步骤b所述透过信号及噪声信号经模数转换后送入中央处理部分进行计算、处理;d、处理结果以信噪比OD值的形式加以显示。
关 键 词:滤光片 光电探测器 信号及噪声 信噪比 滤镜 步骤实施 光谱特性 光学测试 积分测量 进行计算 模数转换 数据可靠 噪声信号 中央处理 透射 光源 照射 检测 配套
IPC专利分类号:G01M11/02(20060101)
参考文献:
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引证文献:
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