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专利详细信息

基于X荧光光谱的铁矿石中二价铁的分析方法       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN201210118105.8

申 请 日:20120420

发 明 人:应海松 张建波 林力 陈贺海

申 请 人:中华人民共和国北仑出入境检验检疫局

申请人地址:315800 浙江省宁波市北仑区长江南路219号

公 开 日:20120815

公 开 号:CN102636509A

代 理 人:程晓明;蔡菡华

代理机构:宁波奥圣专利代理事务所(普通合伙)

语  种:中文

摘  要:本发明公开了一种基于X荧光光谱的铁矿石中二价铁的分析方法,包括以下步骤:1)选取FeO和Fe<Sub>2</Sub>O<Sub>3</Sub>按不同的比例依次混合后得到多个混合标样,用X射线荧光光谱仪对所有的试样依次进行扫描测量,将测量数据导入到电脑中的Matlab小波软件,选择haar小波对36.24°的L<Sub>β1</Sub>线和37.22°的L<Sub>α1</Sub>一次线进行解谱分析,分别得到FeO含量与L<Sub>β1</Sub>线的关系曲线和FeO含量与L<Sub>α1</Sub>线的关系曲线作为各自的工作曲线,将未知FeO含量的铁矿石样品进行扫描测量,得到的数据与各自的工作曲线比对,即得铁矿石样品的FeO含量,优点在于用小波分析解析铁矿中铁的X荧光谱峰,将二价铁从二价铁与三价铁的重叠峰中分离出来,可以避免原先湿法分析FeO含量的繁琐步骤,速度快,方法精密度好。

主 权 项:1.一种基于X荧光光谱的铁矿石中二价铁的分析方法,其特征在于包括以下步骤:1)选取FeO和Fe2O3按不同的比例依次混合后得到多个混合标样,将混合标样研磨以便充分混匀,以硼砂作为衬底,压制成片状试样,用X射线荧光光谱仪对所有的试样依次进行扫描测量;2)在电脑上安装Matlab小波软件,将X射线荧光光谱仪测量得到的数据导入到电脑中的Matlab小波软件,选择haar小波对36.24°的Lβ1线和37.22°的Lα1一次线进行解谱分析,用坐标定位工具分别对解谱后的Lβ1线和Lα1线左右最近的峰定位并读取峰高值,依次导入所有试样的数据,即得到不同的FeO含量与Lβ1线和Lα1线峰高值的对应关系;3)根据步骤2)中得到的对应关系,分别得到FeO含量与Lβ1线的关系曲线和FeO含量与Lα1线的关系曲线作为各自的工作曲线;4)将未知FeO含量的铁矿石样品用X射线荧光光谱仪进行扫描测量,测量得到的数据导入到电脑中的Matlab小波软件,经haar小波分解后的的Lβ1线或Lα1与各自的工作曲线比对,即得铁矿石样品的FeO含量。

关 键 词:铁矿石样品  工作曲线  关系曲线  进行扫描  小波 精密度 荧光光谱仪 测量数据  繁琐步骤  分离出来  小波分析  荧光光谱 荧光谱峰  铁矿石 分析  重叠峰  次线  导入  湿法  铁矿 解析  软件  电脑  

IPC专利分类号:G01N23/223(20060101)

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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