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专利详细信息

一种基于假设检验的嵌入式基础软件可靠性评估方法       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN201210319936.1

申 请 日:20120831

发 明 人:汪晓庆 邓世伟 郑彦兴 杨广华 苏晓艳 齐超 李冬红

申 请 人:中国人民解放军63928部队

申请人地址:100101 北京市朝阳区安翔北路10号

公 开 日:20150415

公 开 号:CN102866949B

代 理 人:徐国文

代理机构:11271 北京安博达知识产权代理有限公司

语  种:中文

摘  要:本发明涉及计算机信息处理技术领域,具体涉及一种基于假设检验的嵌入式基础软件可靠性评估方法,本发明用于嵌入式基础软件验收测评中,在没有出现被测软件失效情况下得到有意义的可靠性评估结果。当测试过程中出现一定数量的数据失效时,本发明也能很好地进行评估,具有一致性,并且可靠性评估效率高。

主 权 项:1.一种基于假设检验的嵌入式基础软件可靠性评估方法,所述假设检验指的是根据随机变量的样本接受或拒绝H的过程;其中,假设H是关于随机变量概率分布的命题;其特征在于,所述评估方法包括下述步骤:A、嵌入式基础软件可靠性初步评估;B、嵌入式基础软件可靠性准确评估;所述步骤A中,设p为嵌入式基础软件的失效率,即其中U为按照操作剖面选择执行的不同的测试用例总数,Ii为第i个测试用例;如果Ii成功,ω(Ii)=0,如果Ii失败,ω(Ii)=1,P(Ii)为按照操作剖面执行Ii的概率;所述步骤A中,假定为p选择特定值θ,并对如下假设加以检验:即嵌入式基础软件的失效率p至多为θ,H0:p≤θ以及H1:p>θ;其中:H0为检验零假设;H1为备择假设;按照操作剖面随机选择的N个测试用例,其中T个测试失败;如果T≥1,则拒绝H0;当H0正确时,拒绝H0的概率为α(p)=P(T≥1|p)=1-P(T=0|p)=1-(1-p)N,p≤θ;对所有的p≤θ时,有如下表达式:α(p)≤1-(1-θ)N,     (1);当H0不正确时,接受H0的概率为β(p)=P(T=0|p)=(1-p)N,p>θ;对于所有p>θ时,有如下表达式:β(p)<(1-θ)N,     (2);其中,α(p)和β(p)分别为产生I类和II类错误的概率;N为自然数;为了检验嵌入式基础软件的可靠性至少为r的假设,检验零假设H0:p≤θ,其中p为嵌入式基础软件的失效率,θ=1-

关 键 词:可靠性评估 基础软件 嵌入式 计算机信息处理技术 测试过程  软件失效  数据失效  评估  检验  

IPC专利分类号:G06F11/36(20060101)

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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