文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN201310567146.X

申 请 日：20131113

发 明 人：陈镇龙 罗颖 宋昀岑 谭育 谭良 凌云 谢恒 刘丁维 李文龙 杨学光 薛丙强 丁健

申 请 人：成都术有科技有限公司

申请人地址：610000 四川省成都市一环路东一段159号

公 开 日：20140212

公 开 号：CN103575742A

代 理 人：刘渝

代理机构：51213 四川省成都市天策商标专利事务所

语　　种：中文

摘　　要：本发明提出了一种一键式光学测量仪，该一键式光学测量仪包括光学系统，标定系统，匹配系统，图像测量系统，该测量仪通过光学系统完成对待测件的低畸变成像，通过标定系统计算图像中每个像素代表的实际尺寸大小，通过匹配系统完成对待测件的放置位置进行调整，通过图像测量系统完成对各个测量参数的微米级测量，整个测量仪突破了硬件设施和光学系统所带来的精度限制，大大提高了测量的精度和效率。

主 权 项：1.一种一键式光学测量仪，其特征在于，该测量仪包括光学系统，标定系统，匹配系统，图像测量系统，其中，所述光学系统沿光路顺次包括平行光源，反光镜，载物台，双远心镜，相机；所述标定系统用于计算相机所得图像中每个像素代表的实际尺寸大小；所述匹配系统用于实现待测件图像与其标准图像的自动配准，计算出待测件放置位置相对于测量规划时的位移以及旋转角度，从而对待测件的放置位置进行调整；所述图像测量系统包括寻找基元模块，辅助图形成像模块和测量模块，所述寻找基元模块用于在采集图像中获得基本几何图形，所述辅助图形成像模块基于所获得基本几何图形绘制辅助图形，所述测量模块根据基本几何图形和/或辅助图形获得各种测量参数。

关 键 词：光学系统 图像测量系统 光学测量仪  标定系统  匹配系统  测量参数  计算图像  实际尺寸  硬件设施 微米级 畸变  像素

IPC专利分类号：G01N21/88(20060101);G01N21/956(20060101);G01B11/00(20060101)