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专利详细信息

一种用于芯片随机验证的分批随机机制       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN201511010452.9

申 请 日:20151230

发 明 人:李拓 周恒钊 符云越

申 请 人:山东海量信息技术研究院

申请人地址:250101 山东省济南市高新技术开发区国家信息通信国际创新园

公 开 日:20160601

公 开 号:CN105631134A

代 理 人:张靖

代理机构:37100 济南信达专利事务所有限公司

语  种:中文

摘  要:本发明公开了一种用于芯片随机验证的分批随机机制,将单次随机验证分成若干批验证串行执行,每批验证包含若干数目的激励,并在不同批次的验证之间提供对目前随机验证的效率评估和控制机制,使得随机约束和对应的随机激励规模可以根据验证效率的变化而获得修改。本发明解决了随机验证中需要对特定随机约束分别确定合适的激励数目的问题,既不会出现激励数目太多而造成的资源大量浪费,也不会出现因为激励数目太小而造成的验证不充分。对于加快验证收敛,控制芯片研发周期有着重大的意义。

主 权 项:1.一种用于芯片随机验证的分批随机机制,其特征在于:将单次随机验证分成若干批验证串行执行,每批验证包含若干数目的激励,并在不同批次的验证之间提供对目前随机验证的效率评估和控制机制,使得随机约束和对应的随机激励规模可以根据验证效率的变化而获得修改。

关 键 词:验证  控制机制  控制芯片 随机机制  效率评估  单次 研发  收敛  芯片 浪费  

IPC专利分类号:G06F17/50(20060101)

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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