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专利详细信息

一种高LED发光效率的外延片及其生长方法       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN201610705933.X

申 请 日:20160823

发 明 人:张韧剑 李志聪 冯亚萍 王辉 孙一军 王国宏

申 请 人:扬州中科半导体照明有限公司

申请人地址:225009 江苏省扬州市开发区临江路186号

公 开 日:20190122

公 开 号:CN106129209B

代 理 人:江平

代理机构:32106 扬州市锦江专利事务所

语  种:中文

摘  要:一种高LED发光效率的外延片及其生长方法,属于半导体技术领域,在衬底的同一侧依次外延生长缓冲层、非故意掺杂GaN层、N型掺杂GaN层、AlN/GaN叠层结构MQB层、多量子阱层、电子阻挡层和P型掺杂GaN层,在温度为1100~1200℃、压力为50~400mbar的条件下,在N型掺杂GaN层上生长形成AlN/GaN叠层结构MQB层。本发明生产方法简单,在生长AlN/GaN MQB层时,稳定反应室的温度和压力,通过控制三甲基镓(TMGa)和三甲基铝(TMAl)注入反应室的时间和流量就可以实现,能明显改善电流扩展,提高LED发光二极管的亮度。

主 权 项:1.一种高LED发光效率的外延片,在衬底的同一侧依次设置缓冲层、非故意掺杂GaN层、N型掺杂GaN层、N型AlN/GaN叠层结构MQB层、多量子阱层、电子阻挡层和P型掺杂GaN层;其特征在于所述N型AlN/GaN叠层结构MQB 层由2~8对AlN/GaN层组成;每对AlN/GaN层的总厚度为1~10nm,每对AlN/GaN层中AlN与GaN的厚度比为0.2~5∶1,相邻对的AlN与GaN的厚度比呈梯度变化。

关 键 词:叠层结构 生长  半导体技术领域  电子阻挡层 多量子阱层  电流扩展 三甲基铝  三甲基镓  外延生长  稳定反应  反应室  缓冲层 外延片 衬底  掺杂  生产  

IPC专利分类号:H01L33/14(20100101);H01L33/06(20100101);H01L33/00(20100101)

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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