文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN201480070103.3

申 请 日：20141209

发 明 人：J·施奈德 F·希尔德 H·莱克勒克 S·罗克斯

申 请 人：斯内克马公司 中央科学研究中心 卡尚高等师范学校

申请人地址：法国巴黎

公 开 日：20211221

公 开 号：CN106233126B

代 理 人：顾嘉运

代理机构：31100 上海专利商标事务所有限公司

语　　种：中文

摘　　要：本发明涉及一种用于表征零件(10)的方法，包括获得所述零件的X射线层析摄影图像的步骤，随后是将所述图像与参照(20)进行相关的步骤(200)，其特征在于：所述相关步骤(200)包括在预定的一组X射线层析摄影图像的变换(30)中查找使所述图像和参照之间的差异(50)最小化的变换(40)，以表征(300，350)所述零件(10)的内部。

主 权 项：1.一种用于表征零件(10)的方法，所述方法包括获得零件的X射线层析摄影图像(100)的步骤并且随后将所述图像与参照(20)进行相关的步骤(200)，所述参照(20)包括标准零件的图像，所述方法的特征在于：所述相关步骤(200)包括在预定的一组X射线层析摄影图像变换(30)中查找一个使所述图像和所述参照之间的差异(50)最小化的变换(40)，以便表征(300；350；400；500)所述零件(10)的内部，包括获得所述图像和所述参照之间的拓扑学差异以找出其中的缺陷，并且其中通过利用提取的变换(40)确定(350)所述零件(10)是否是可接受的。

关 键 词：层析摄影图像  图像 最小化 查找  

IPC专利分类号：G01N23/046(20180101);G06K9/00(20060101);G06T7/00(20170101)