专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:发明专利
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN201710615088.1
申 请 日:20170726
申 请 人:南京大学扬州光电研究院
申请人地址:225009 江苏省扬州市邗江中路119号
公 开 日:20171215
公 开 号:CN107482092A
代 理 人:江平
代理机构:32106 扬州市锦江专利事务所
语 种:中文
摘 要:一种395nm短波长紫外LED结构的外延加工方法,属于半导体技术领域,在衬底上以依次外延生长缓冲层、GaN层、InGaN插入层、AlInGaN超晶格模板层和InGaN/AlInGaN多量子阱结构层。其中AlInGaN超晶格模板层由生长20层的短周期InGaN/AlGaN超晶格结构层形成;在生长所述InGaN/Al<Sub>x</Sub>In<Sub>y</Sub>Ga<Sub>1‑x‑y</Sub>N多量子阱结构层时,先在AlInGaN超晶格模板层上生长一层Al<Sub>x</Sub>In<Sub>y</Sub>Ga<Sub>1‑x‑y</Sub>N超晶格势垒层,然后再在Al<Sub>x</Sub>In<Sub>y</Sub>Ga<Sub>1‑x‑y</Sub>N超晶格势垒层上生长一层InGaN势阱层,如此交替地生长Al<Sub>x</Sub>In<Sub>y</Sub>Ga<Sub>1‑x‑y</Sub>N超晶格势垒层和InGaN势阱层,直至最后生长Al<Sub>x</Sub>In<Sub>y</Sub>Ga<Sub>1‑x‑y</Sub>N超晶格势垒层。本发明提升LED量子阱结构内量子效率达到3倍以上。
主 权 项:1.一种395nm短波长紫外LED结构的外延加工方法,利用金属有机物化学气相沉积法,在衬底上依次生长缓冲层、GaN层、InGaN插入层、AlInGaN超晶格模板层和InGaN/AlInGaN多量子阱结构层;其特征在于:所述AlInGaN超晶格模板层由生长20层的短周期InGaN/AlGaN超晶格结构层形成;在生长所述InGaN/AlxInyGa1-x-yN多量子阱结构层时,先在AlInGaN超晶格模板层上生长一层AlxInyGa1-x-yN超晶格势垒层,然后再在AlxInyGa1-x-yN超晶格势垒层上生长一层InGaN势阱层,如此交替地生长AlxInyGa1-x-yN超晶格势垒层和InGaN势阱层,直至最后生长AlxInyGa1-x-yN超晶格势垒层,所述AlxInyGa1-x-yN超晶格势垒层中x和y的比值为3.66∶1,且x为0.1~0.8;y为0.03~0.22。
关 键 词:超晶格 势垒层 生长 模板层 多量子阱结构层 势阱层 半导体技术领域 超晶格结构层 紫外LED结构 量子阱结构 内量子效率 外延生长 短波长 短周期 缓冲层 衬底 加工
IPC专利分类号:H01L33/04(20100101);H01L33/06(20100101);H01L33/00(20100101)
参考文献:
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二级参考文献:
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耦合文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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