文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN201680015112.1

申 请 日：20160304

发 明 人：渡边信義

申 请 人：日本光电工业株式会社

申请人地址：日本东京

公 开 日：20171201

公 开 号：CN107427234A

代 理 人：吴立;邹轶鲛

代理机构：11464 北京奉思知识产权代理有限公司

语　　种：中文

摘　　要：发光元件(2)由第一支承部(42)支承，使得光轴(21)相对于与第一附着面(41)正交的方向(A)倾斜。光检测元件(3)由第二支承部(52)支承，使得在第一附着面(41)接附于被检者的活组织的第一部分(101)并且第二附着面(51)接附于活组织(100)的第二部分(102)的情况下，光轴(21)位于光检测面(31)上。在相同的情况下，通道(53)定位成当从与第二附着面(51)正交的方向(B)观看时，通道(53)不与第一通道(43)重叠。

主 权 项：1.一种探测器，包括：发光元件，该发光元件具有光轴；光检测元件，该光检测元件具有被构造为检测从所述发光元件发出的光的光检测表面，并且被构造为输出与所述光的强度对应的信号；第一支承件，该第一支承件具有：第一附着表面，该第一附着表面适于接附于被检者的活组织的第一部分；第一支承部，该第一支承部支承所述发光元件；以及第一通道，该第一通道被构造为从所述发光元件发出的光能够穿过所述第一通道；以及第二支承件，该第二支承件具有：第二附着表面，该第二附着表面适于接附于所述被检者的活组织的第二部分；第二支承部，该第二支承部支承所述光检测元件；以及第二通道，该第二通道被构造为穿过所述第二部分的光能够穿过所述第二通道，其中，所述发光元件由所述第一支承部支承，使得所述光轴相对于与所述第一附着表面正交的方向倾斜；其中，所述光检测元件由所述第二支承部支承，使得在所述第一附着表面接附于所述活组织的所述第一部分并且所述第二附着表面接附于所述活组织的所述第二部分的情况下，所述光轴位于所述光检测表面上；并且其中，在所述第一附着表面接附于所述活组织的所述第一部分并且所述第二附着表面接附于所述活组织的所述第二部分的情况下，所述第二通道定位为：当从与所述第二附着表面正交的方向观看时，所述第二通道不与所述第一通道重叠。

关 键 词：附着面  活组织 正交的  支承部  光轴 接附  支承 光检测元件  发光元件 光检测面  观看

IPC专利分类号：A61B5/0205(20060101);A61B5/026(20060101);A61B5/1455(20060101);A61B5/00(20060101)