文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN201910732156.1

申 请 日：20190809

发 明 人：余韫瑶 吴小宝 姚芳 余灯广

申 请 人：上海理工大学附属初级中学 上海理工大学

申请人地址：200093 上海市杨浦区图们路50号

公 开 日：20191122

公 开 号：CN110484981A

代 理 人：王婧

代理机构：31001 上海申汇专利代理有限公司

语　　种：中文

摘　　要：本发明提供了一种基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法，其特征在于，包括：施加不同的电压进行静电纺丝，测量静电纺丝过程中聚合物流体形成的泰勒锥的高度并通过扫描电子显微镜测定所得纳米纤维的直径，建立泰勒锥的高度和纳米纤维的直径之间的线性关系，基于此线性关系，通过测量泰勒锥的高度预测纳米纤维直径。本发明能够为电纺纳米纤维的工业化生产和商业应用提供强有力的监控和检测工具。

主 权 项：1.一种基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法，其特征在于，包括：施加不同的电压进行静电纺丝，测量静电纺丝过程中聚合物流体形成的泰勒锥的高度并通过扫描电子显微镜测定所得纳米纤维的直径，建立泰勒锥的高度和纳米纤维的直径之间的线性关系，基于此线性关系，通过测量泰勒锥的高度预测纳米纤维直径。

关 键 词：纳米纤维 泰勒锥  线性关系  电纺 扫描电子显微镜测定  监控和检测  聚合物流体  测量静电  静电纺丝 商业应用  预测  纺丝 测量  施加  

IPC专利分类号：D01D5/00(20060101)