文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN202010630652.9

申 请 日：20200703

发 明 人：何高法 任建兵

申 请 人：重庆科技学院

申请人地址：401331 重庆市沙坪坝区大学城东路20号

公 开 日：20201009

公 开 号：CN111750785A

代 理 人：郑勇

代理机构：50223 重庆蕴博君晟知识产权代理事务所(普通合伙)

语　　种：中文

摘　　要：本发明公开了一种包衣厚度和包衣质量的在线测量方法，包括以下步骤：S1：通过测量装置从包衣腔内获取颗粒，并使得颗粒平铺在抓取板上；S2：启动照相机和结构光投影仪获取抓取板上的颗粒的含结构光编码信息和不含结构光编码信息的颗粒图片，并利用图像分析方法对颗粒图片进行图像处理分析，得到颗粒平均直径和颗粒形态；S3：利用两次测量的颗粒平均直径的差值得到包衣厚度；S4：若包衣厚度大于规定厚度，则利用最后一次图像分析获得的图像信息进行包衣表面缺陷判断以评价包衣表面质量；S5：若包衣厚度小于规定厚度，则重复步骤S1‑S3，直至包衣厚度大于规定厚度，则进行步骤S4。本发明还公开了一种包衣厚度和包衣质量的测量装置。具有成本低，精度高的优点。

主 权 项：1.一种包衣厚度和包衣质量的在线测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：通过测量装置从包衣腔获取颗粒，并使得颗粒平铺在抓取板上；S2：启动照相机和结构光投影仪获取抓取板上的颗粒的含结构光编码信息和不含结构光编码信息的颗粒图片，并利用辅助结构光三维测量的图像分析方法对颗粒图片进行图像处理分析，得到图像信息，所述图像信息包括颗粒平均直径和颗粒形态；S3：利用两次测量的颗粒平均直径的差值得到包衣厚度；S4：若包衣厚度大于规定厚度，则利用最后一次图像分析获得的图像信息进行包衣表面缺陷判断以评价包衣表面质量；S5：若包衣厚度小于规定厚度，则重复步骤S1-S3，直至包衣厚度大于规定厚度，则进行步骤S4。

关 键 词：抓取  结构光编码  包衣表面  测量装置  图像处理分析  投影仪 颗粒形态  两次测量  缺陷判断  图像分析  图像信息 一次图像  在线测量  包衣腔  结构光 平铺  照相机 重复  图片 分析  

IPC专利分类号：G01B11/06(20060101);G01B11/08(20060101);G01N15/02(20060101);G01N21/95(20060101)