文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN202010930373.4

申 请 日：20200907

发 明 人：尹书娟

申 请 人：北京凌云光技术集团有限责任公司

申请人地址：100094 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室

公 开 日：20201124

公 开 号：CN111986195A

代 理 人：逯长明;许伟群

代理机构：11363 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)

语　　种：中文

摘　　要：本申请公开了一种外观缺陷检测方法，包括：对于所有待检测对象，采用预定的筛选策略进行外观缺陷筛选，筛选出确定没有缺陷的待检测对象和疑似具有缺陷的待检测对象；对于所述疑似具有缺陷的待检测对象，采用深度学习技术进行识别，区分出具有真缺陷的待检测对象和具有假缺陷的待检测对象；对于所述具有真缺陷的待检测对象，区分缺陷类别后予以输出。进一步的，采用去帽二值化方法进行外观缺陷筛选，或者采用相移二值化方法进行外观缺陷筛选。该检测方法的设计能够对于缺陷的成像要求不高，并且不要求缺陷明显，无须定制光源，因而能够有效避免误检及漏检的发生。此外，本申请还公开了一种外观缺陷检测系统。

主 权 项：1.一种外观缺陷检测方法，其特征在于，包括：对于所有待检测对象，采用预定的筛选策略进行外观缺陷筛选，筛选出确定没有缺陷的待检测对象和疑似具有缺陷的待检测对象；对于所述疑似具有缺陷的待检测对象，采用深度学习技术进行识别，区分出具有真缺陷的待检测对象和具有假缺陷的待检测对象；对于所述具有真缺陷的待检测对象，区分缺陷类别后予以输出。

关 键 词：待检测对象  筛选  外观缺陷  外观缺陷检测  二值化 真缺陷  成像要求  缺陷类别  假缺陷  漏检 误检 相移 光源 申请  输出  检测  学习  

IPC专利分类号：G06T7/00(20170101);G06T7/12(20170101);G06T7/62(20170101);G06N3/08(20060101)