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专利详细信息

具有智能识别功能的分析物检测装置       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN202011096315.2

申 请 日:20201014

发 明 人:杨翠军

申 请 人:上海移宇科技有限公司

申请人地址:201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区牛顿路200号8号楼7楼F座

公 开 日:20250128

公 开 号:CN113281382B

代 理 人:陈珊珊

代理机构:上海光华专利事务所(普通合伙)

语  种:中文

摘  要:本发明公开了一种具有智能识别功能的分析物检测装置,包括:发射器;传感器结构,传感器结构包括传感器基座和具有第一参数的传感器;底座,传感器结构设置于底座上,发射器安装至底座上;设置于底座、传感器基座或者发射器上的物理部件,物理部件具有第二参数,第二参数与第一参数相对应;和用于检测第二参数的检测电路,检测电路将第二参数传输至发射器,使发射器自动识别传感器的第一参数,提高了检测装置的智能化程度,增强用户体验。

主 权 项:1.一种具有智能识别功能的分析物检测装置,其特征在于,包括:发射器;传感器结构,所述传感器结构包括传感器基座和具有第一参数的传感器,所述传感器的一端刺入皮下,所述传感器的另一端设置于所述传感器基座中,所述第一参数包括免校准码、型号、电极信息、膜层信息、灵敏度、校正系数、使用寿命、使用条件中的一种或多种;底座,所述传感器结构设置于所述底座上,所述发射器安装至所述底座上;设置于所述底座、所述传感器基座或者所述发射器上的物理部件,所述物理部件具有第二参数,所述第二参数与所述第一参数相对应;和用于检测所述第二参数的检测电路,所述检测电路将所述第二参数传输至所述发射器,使所述发射器对所述第二参数进行处理以自动识别对应的所述第一参数,所述检测电路检测所述物理部件的电阻、电容、电感中的一种或多种物理参数,所述第二参数包括所述物理参数的数值、数值组合、数值范围或者数值范围组合。

关 键 词:传感器基座  检测电路 底座  传感器结构 分析物检测装置  物理部件  智能识别功能  检测装置  自动识别传感器  参数传输  用户体验 智能化 传感器 检测  

IPC专利分类号:G01N27/07;G01N27/22

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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