文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN202111537341.9

申 请 日：20211215

发 明 人：杨春节 张海锭 万宇鹏 赵亮 尹永钊 冯锦 陈宇航 王晓龙 姚小兵

申 请 人：中国测试技术研究院声学研究所

申请人地址：610021 四川省成都市玉双路10号

公 开 日：20240315

公 开 号：CN114199475B

代 理 人：杨伟

代理机构：成都宏田知识产权代理事务所(普通合伙)

语　　种：中文

摘　　要：本发明涉及漏率测量技术领域，提供了一种基于差分式处理法测量漏率的方法及装置，所述方法通过将被测漏孔件与差分式漏率测量装置连接形成一密闭空间，将预定差压范围划分为若干项数的等差数列，调节活塞装置使差压计示值依次分别处于该等差数列的每一项差压值，同时测量每一项差压值下密闭空间的总漏率得到数列Q<Sub>i</Sub>，根据数列Q<Sub>i</Sub>是否满足预定条件判断接头处和被测漏孔漏气气流处于的泄漏状态，并估算得到被测漏孔与接头处漏率的大小关系。本发明实现了在不需要考虑接头漏率与被测漏孔漏率相对大小关系的特定条件以及环境温度变化影响的情况下，对密封件被测漏孔和接头处漏率进行便捷、高效的测量，提供了一种新的漏率测量方法，提升了用户体验。

主 权 项：1.一种基于差分式处理法测量漏率的方法，其特征在于，包括：将被测漏孔件与差分式漏率测量装置连接形成一密闭空间，在所述密闭空间内外有差压时，所述被校接头处和所述被测漏孔处均发生有漏气现象，所述差分式漏率测量装置包括活塞装置和差压计，所述活塞装置用于调节所述密闭空间的气压大小，所述差压计用于度量所述密闭空间气压的变化值；将差压范围[-a,a]划分为若干项数的等差数列P_i，其中，a≤100Pa，i为正整数，在排除所述接头处无较大泄漏的情况下，调节所述活塞装置使所述差压计示值依次分别处于所述等差数列的每一项差压值，同时测量每一项差压值下所述密闭空间的总漏率，得到数列Q_i；根据所述数列Q_i是否满足预定条件判断所述被测漏孔与所述接头处漏率的大小关系：若所述数列Q_i∝|P_i|，则所述被测漏孔和所述接头处气流均处于分子流状态，所述被测漏孔漏率Q₁与所述接头处漏率Q₂满足若所述数列Q_i∝(U²_i+|R_i|)，U_i+R_i＝P_i，则所述被测漏孔处气流处于粘滞流状态且所述接头处气流处于分子流状态，接头处漏率Q₂忽略不计，被测漏孔漏率Q₁≈Q_i，若所述数列Q_i∝P²_i，则所述被测漏孔和所述接头处气流均处于粘滞流状态。

关 键 词：测漏 漏率 漏率测量  接头处  数列 大小关系  等差数列 密闭空间  测量  差分式 环境温度变化  活塞装置  用户体验  预定条件  装置连接  密封件  总漏率  漏气  孔件  泄漏  估算  

IPC专利分类号：G01M3/26