专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:发明专利
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN202211352048.X
申 请 日:20221031
申 请 人:武汉颐光科技有限公司
申请人地址:430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区金融港四路10号6号楼(自贸区武汉片区)
公 开 日:20230303
公 开 号:CN115727772A
代 理 人:范三霞
代理机构:武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙)
语 种:中文
摘 要:本发明提供一种宽光谱扫描式膜厚检测光路系统,包括依次光路连接的光谱扫描光路、Y型分叉光纤和照明光路;光谱扫描光路输出不同波长的单色光;Y型分叉光纤向照明光路输出不同波长的单色光,并接收样品表面反射光,并将样品反射光输出,以使得根据样品表面的反射光不同波长的单色光的能量,测量样品膜厚;照明光路将不同波长的单色光汇聚于样品表面,并将样品反射光汇聚进入Y型分叉光纤。本发明采用光谱扫描光路获取单色光,有效较低了成本、易于产线集成、易于标校;光谱扫描光路能够快速准确的输出单色光,1400nm‑1600nm全光谱扫描时间为0.5s,光谱分辨率为5nm。有效提高了膜厚测量速度和精确度。
主 权 项:1.一种宽光谱扫描式膜厚检测光路系统,其特征在于,包括依次光路连接的光谱扫描光路、Y型分叉光纤和照明光路;所述光谱扫描光路,用于产生并输出不同波长的单色光;所述Y型分叉光纤,用于向所述照明光路输出不同波长的单色光,并接收不同波长的单色光照射到样品表面的反射光,并将样品反射光输出,以使得根据样品表面的反射光不同波长的单色光的能量,测量样品膜厚;所述照明光路,用于将所述Y型分叉光纤输出的不同波长的单色光汇聚于样品表面,并将样品反射光汇聚进入所述Y型分叉光纤。
关 键 词:单色光 光谱扫描 波长 光路 照明光路 输出 样品反射光 样品表面 光纤 样品表面反射光 光谱分辨率 宽光谱扫描 汇聚 光路连接 光路系统 膜厚测量 膜厚检测 反射光 全光谱 样品膜 标校 产线 扫描 测量
IPC专利分类号:G01B11/06
参考文献:
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二级参考文献:
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耦合文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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