专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:发明专利
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN202210817422.2
申 请 日:20220712
申 请 人:重庆科技学院
申请人地址:401331 重庆市沙坪坝区大学城东路20号
公 开 日:20221025
公 开 号:CN115236683A
代 理 人:余锦曦
代理机构:重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙)
语 种:中文
摘 要:本发明公开了一种跨时段非接触式距离测量系统,其特征在于,包括设置在工作台上的动态测距组件和面位确认组件;微控制器,用于控制测距组件和面位确认组件。一种复合式位移检测方法,确定被测基准点与被测移动点;通过面位确认组件确认检测参考面,复合统计被测基准点和被测移动点的位移量,直接获得左右X向的形变距离,前后Y向的形变距离,以及上下Z向的形变距离。通过本发明的方案,可以远离复杂危险区域,远距离对建筑或桥梁等待测量位置进行长度数据的精确测量,其操作方便,测量精确,适合推广使用。
主 权 项:1.一种跨时段非接触式距离测量系统,其特征在于,包括:设置在工作台(4)上的动态测距组件和面位确认组件;其中,动态测距组件经竖向滑动机构安装在工作台(4)侧壁,动态测距组件包括激光发射器(1)、减速装置(2)及其输出轴(5)、微型伺服电机(3)、支撑机构(6)、TOF传感器(7);激光发射器(1)和TOF传感器(7)做水平旋转产生偏角;所述面位确认组件安装在工作台(4)的上端面,面位确认组件设置有面位激光发射器(1’)和面位TOF传感器(7’),二者与所述输出轴(5)位于同一检测参考面,面位激光发射器(1’)和面位TOF传感器(7’)在该检测参考面内绕一定点A公转;微控制器,用于控制测距组件和面位确认组件,并获取TOF传感器(7)、和面位TOF传感器(7’)的测量数据。
关 键 词:确认组件 形变 测距组件 基准点 移动点 和面 测量 距离测量系统 测量位置 长度数据 非接触式 确认检测 微控制器 危险区域 位移检测 参考面 复合式 位移量 远距离 复合 桥梁 统计
IPC专利分类号:G01S17/08;G01S7/4865;G01B15/06;G01B5/02
参考文献:
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二级参考文献:
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耦合文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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