专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:发明专利
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN202310539504.X
申 请 日:20230515
申 请 人:重庆科技学院
申请人地址:401331 重庆市沙坪坝区大学城东路20号
公 开 日:20230725
公 开 号:CN116482762A
代 理 人:王海凤
代理机构:重庆晟轩知识产权代理事务所(普通合伙)
语 种:中文
摘 要:本发明涉及一种计算亚地震断层长度的方法,亚地震断层是指低于地震分辨率的小位移断层或大位移断层末端部分,即在地震数据体中难以识别的断层。本发明涉及的方法为预测大断层末端部分的亚地震断层长度的方法。首先选择要预测的大断层,然后在地震数据体中选择垂直于该断层走向的一系列地震剖面,在这些地震剖面上读取该断层断距,编制断层断距‑距离曲线,断层断距‑距离曲线纵轴最小值为地震垂向分辨率R,找出断层断距‑距离曲线末端点并绘制末端点的切线,切线斜率即为地震可识别断层端部断距‑距离曲线的斜率G;通过公式R/G计算,得出结果即为预测该大断层末端亚地震断层长度。
主 权 项:1.一种计算亚地震断层长度的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:首先选择要预测的大断层,然后在Geoeast软件或蓝马软件中选择一系列垂直于该大断层走向的地震剖面,在这些地震剖面上识别并解释该大断层,将所有大断层投影在平面中,在平面中确定断层线,再根据断层线来确定断层面;S2:在垂直于断层走向的一系列地震剖面上读取该大断层的断距,断层断距用垂直于断层走向地震剖面上的垂直落差来表示,如果断层作用前一点P,在断层作用之后变为两个撕裂点(P,P'),两个撕裂点(P,P')分别位于断层的上盘和下盘之上,在垂直于断层走向的地震剖面上量度两个撕裂点(P,P')之间的垂直落差,该落差即为断距,记录下N个数N≥7;S3:刻画断层断距-距离曲线,以S2中的P,P'间的垂直落差作为大断层断距,然后以平面上断层的左端点为零点,选取的一系列地震剖面距离左端点的长度即为距离,然后以断层断距为y轴,以选取的地震剖面距离断层左端点的长度为x轴,绘制平面直角坐标系,利用记录的数字描点,用一条光滑的曲线将点连起来即得断层断距-距离曲线。S4:断层断距-距离曲线纵轴最小值为地震垂向分辨率R,即地震记录沿垂直方向能够分辨的最薄地层厚度,找出断层断距-距离曲线末端点并绘制末端点的切线,切线斜率即为断层端部位移曲线的斜率G;S5:通过公式R/G计算,得出结果即为预测S1中大断层末端的亚地震断层的长度。
关 键 词:断层 地震断层 大断层 地震数据体 地震 预测 读取 切线 地震分辨率 地震剖面 切线斜率 曲线末端 曲线纵轴 大位移 分辨率 可识别 末端点 小位移 垂向 垂直 绘制 编制
IPC专利分类号:G01V1/30
参考文献:
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二级参考文献:
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耦合文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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