文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN202311784962.6

申 请 日：20231224

发 明 人：刘亚鼎 王瑞 陈军 项雅波 江攀 王小康

申 请 人：武汉颐光科技有限公司

申请人地址：430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区金融港四路10号6号楼(自贸区武汉片区)

公 开 日：20240416

公 开 号：CN117889958A

代 理 人：范三霞

代理机构：武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙)

语　　种：中文

摘　　要：本发明提供一种光谱仪的波长校准方法，包括：基于光谱仪采集光源的全光谱光强；根据多个理论特征峰波长，在全光谱光强上找到每个理论特征峰波长附近范围内的最大光强，并获取最大光强邻域内的所有光强；根据每一个邻域内的所有光强对应的原始波长，拟合迭代出对应的拟合特征峰波长；根据每一个邻域内的拟合特征峰波长和理论特征峰波长，采用预设修正方式对每一个原始波长进行修正。本发明通过光源的多个特征峰对光谱仪的波长进行校准，克服了在光谱仪的使用过程中，由于外界温度、压强、光学器件机械与光学缺陷等因素造成显示波长与实际波长存在系统偏差的问题。

主 权 项：1.一种光谱仪的波长校准方法，其特征在于，包括：基于光谱仪采集光源的全光谱光强，所述全光谱光强包括所有原始波长对应的光强信息；根据多个理论特征峰波长，在所述全光谱光强上找到每个理论特征峰波长附近范围内的最大光强，并获取所述最大光强邻域内的所有光强，对所述邻域内的所有光强进行归一化；根据每一个邻域内的所有归一化光强对应的原始波长，拟合迭代出对应的拟合特征峰波长；根据每一个邻域内的拟合特征峰波长和理论特征峰波长，采用预设修正方式对每一个原始波长进行修正，得到原始波长校准后的波长。

关 键 词：波长 光强 光谱仪 理论特征  峰波长  特征峰  拟合  原始波长  全光谱  邻域  光源  修正  压强  波长校准 光学器件 光学缺陷  实际波长  系统偏差  最大光强  校准  迭代  光谱 预设  采集  

IPC专利分类号：G01J3/28