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专利详细信息

单芯片集成全桥及其制备方法       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN202410623595.X

申 请 日:20240520

发 明 人:代书雨 马倩倩 周理明 王毅

申 请 人:扬州扬杰电子科技股份有限公司

申请人地址:225008 江苏省扬州市邗江区平山堂北路江阳创业园三期

公 开 日:20240903

公 开 号:CN118588705A

代 理 人:郭翔

代理机构:扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙)

语  种:中文

摘  要:单芯片集成全桥及其制备方法,涉及半导体技术领域。本案中全桥整流芯片有效利用了芯片的面积,使用本案中全桥整流芯片只需要将一个芯片进行封装,封装工艺步骤和成本降低,使用本案中全桥整流芯片可以减少四分之三的芯片使用量,功率密度是传统全桥器件的4倍。

主 权 项:1.单芯片集成全桥及其制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S100,在外延片(1)上制备第一轻掺杂N区(2)和第二轻掺杂N区(3);在第一轻掺杂N区(2)内部制备第一重掺杂N区(4)、第一重掺杂P区(6);在第二轻掺杂N区(3)内部制备第二重掺杂N区(5)、第二重掺杂P区(7);步骤S200,在外延片(1)上制备第一隔离层(8),并分别在第一重掺杂N区(4)、第一重掺杂P区(6)、第二重掺杂N区(5)和第二重掺杂P区(7)处开窗;步骤S300,在第一重掺杂N区(4)、第一重掺杂P区(6)、第二重掺杂N区(5)和第二重掺杂P区(7)处制备相应的第一阴极(9)、第一阳极(11)、第二阴极(10)和第二阳极(12);步骤S400,在外延片(1)上制备第三轻掺杂N区(13)和第四轻掺杂N区(14);在第三轻掺杂N区(13)内部制备第三重掺杂N区(15)和第三重掺杂P区(17);在第四轻掺杂N区(14)内部制备第四重掺杂N区(16)和第四重掺杂P区(18);步骤S500,在外延片(1)上制备第二隔离层(19),并在第三重掺杂N区(15)、第三重掺杂P区(17)、第四重掺杂N区(16)和第四重掺杂P区(18)处开窗;步骤S600,在第三重掺杂N区(15)、第三重掺杂P区(17)、第四重掺杂N区(16)和第四重掺杂P区(18)处制备相应的第三阴极(20)、第三阳极(22)、第四阴极(21)和第四阳极(23),整个器件制备完毕。

关 键 词:芯片 全桥整流  全桥 半导体技术领域  单芯片集成  封装工艺 制备  封装

IPC专利分类号:H01L27/08;H01L23/535;H01L21/77;H01L21/768

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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