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专利详细信息

处理在连续粉尘监测装置的粉尘过滤器上收集的粉尘以用于分析的方法       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN202380064689.1

申 请 日:20230713

发 明 人:金永刚 B·K·贝尔 S·R·巴鲁苏 郭华

申 请 人:联邦科学和工业研究组织

申请人地址:澳大利亚澳大利亚首都领地阿克顿

公 开 日:20250429

公 开 号:CN119907907A

代 理 人:宋珂;龚泽亮

代理机构:北京三友知识产权代理有限公司

语  种:中文

摘  要:本发明提供了一种处理在用于FTIR或XRD分析的连续粉尘监测装置的粉尘过滤器上收集的粉尘的方法,所述方法包括:使粉尘过滤器与液体载体接触以选择性地从粉尘过滤器中去除粉尘,从而产生在液体载体中包含粉尘的浆料;并且通过包含无硅聚合物过滤器元件的过滤单元过滤浆料,从而将粉尘保留在聚合物过滤器元件上。

主 权 项:1.一种处理在用于FTIR或XRD分析的连续粉尘监测装置的粉尘过滤器上收集的粉尘的方法,所述方法包括:使所述粉尘过滤器与液体载体接触以选择性地从所述粉尘过滤器中去除所述粉尘,从而产生在所述液体载体中包含所述粉尘的浆料;并且通过包含无硅聚合物过滤器元件的过滤单元过滤所述浆料,从而将所述粉尘保留在所述聚合物过滤器元件上。

关 键 词:连续  粉尘监测装置  粉尘过滤器  收集  分析  液体载体  聚合物过滤器  聚氯乙烯 平面片材  灰化 过滤单元  有机溶剂  保留  结晶二氧化硅  浆料  丙烯酸类共聚物  纤维素组成  过滤器元件  监测器 微量天平

IPC专利分类号:G01N15/06;B01D39/20;G01N1/40

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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