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专利详细信息

深度测量器具       

文献类型:专利

专利类型:实用新型

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN200920107864.8

申 请 日:20090508

发 明 人:毛红 梁立新

申 请 人:北京毕捷电机股份有限公司

申请人地址:100015 北京市朝阳区酒仙桥北路7号

公 开 日:20100602

公 开 号:CN201497470U

代 理 人:王春光;赵国虹

代理机构:11279 北京中誉威圣知识产权代理有限公司

语  种:中文

摘  要:本实用新型公开了一种深度测量器具,包括滑脚、尺架和测深度卡尺,尺架为长条形结构,滑脚包括两个,两个滑脚通过盖板以可滑动方式套装在尺架两端,压板将测深度卡尺压在尺架上,测深度卡尺测量基准面与滑脚基准面处于同一水平面上。该深度测量器具专门用于测量端盖止口平面到轴承室平面的深度,与现有技术相比,可以直接测量,减少测量次数,减少测量误差,使用方便,提高工作效率。

主 权 项:1.一种深度测量器具,其特征在于所述深度测量器具结构包括:滑脚、尺架和测深度卡尺,尺架为长条形结构,滑脚包括两个,两个滑脚通过盖板以可滑动方式套装在尺架两端,压板将测深度卡尺压在尺架上,测深度卡尺测量基准面与滑脚基准面处于同一水平面上。

关 键 词:尺架  滑脚  卡尺 深度测量  测量基准面  测量次数  测量误差  工作效率  滑动方式  测量端 长条形  基准面 轴承室 盖板 盖止  压板

IPC专利分类号:G01B5/18(20060101)

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引证文献:

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同被引文献:

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