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专利详细信息

一种射频功率放大管功率测试结构       

文献类型:专利

专利类型:实用新型

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN201220054384.1

申 请 日:20120220

发 明 人:郝明丽

申 请 人:沈阳中科微电子有限公司

申请人地址:110179 辽宁省沈阳市浑南新区世纪路15号火炬创新创业园裙楼6层

公 开 日:20120905

公 开 号:CN202421386U

代 理 人:史旭泰

代理机构:21107 沈阳亚泰专利商标代理有限公司

语  种:中文

摘  要:<B>一种射频功率放大管功率测试结构属于测试技术领域,尤其涉及一种射频功率放大管功率测试结构。本实用新型提供一种测试效率高、稳定性好的射频功率放大管功率测试结构。本实用新型包括源调谐器和负载调谐器,负载调谐器与被测射频功率放大管输出端相连,其结构要点源调谐器通过电感或输入匹配电路与被测射频功率放大管输入端相连。</B>

主 权 项:1.一种射频功率放大管功率测试结构,包括源调谐器和负载调谐器,负载调谐器与被测射频功率放大管输出端相连,其特征在于源调谐器通过电感或输入匹配电路与被测射频功率放大管输入端相连。

关 键 词:放大管 射频  调谐器 功率测试 测试技术领域  电感 测试效率  结构要点  匹配电路 输出端  输入端  

IPC专利分类号:G01R31/00(20060101);G01R1/30(20060101)

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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