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专利详细信息

传感器老化试验测试平台       

文献类型:专利

专利类型:实用新型

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN201320577043.7

申 请 日:20130917

发 明 人:许耀文 李伟 张小云 江宏伟

申 请 人:科瑞(苏州工业园区)工业电子有限公司

申请人地址:215000 江苏省苏州市工业园区扬东路58号

公 开 日:20140212

公 开 号:CN203432605U

语  种:中文

摘  要:本实用新型涉及一种传感器老化试验测试平台,包括精密热风烤箱、试验品传输系统及控制系统;所述试验品传输系统与所述精密热风烤箱相连,将试验品送入或者带出所述精密热风烤箱;所述控制系统控制所述精密热风烤箱与所述试验品传输系统的运行;所述控制系统包括温度控制器、加热冷却计时器及总老化时间计时器,所述温度控制器用于设定所述精密热风烤箱的温度,所述加热冷却计时器用于设定试验品加热与冷却的时间,所述总老化时间计时器用于设定整个老化试验所需时间。本实用新型在控制系统的控制下能够智能化地进行接近传感器的老化试验工作,并且可以很精确地进行老化试验参数的设定,测试结果准确可靠。

主 权 项:1.一种传感器老化试验测试平台,其特征是:包括精密热风烤箱(18)、试验品传输系统及控制系统;所述试验品传输系统与所述精密热风烤箱(18)相连,将试验品送入或者带出所述精密热风烤箱(18);所述控制系统控制所述精密热风烤箱(18)与所述试验品传输系统的运行;所述控制系统包括温度控制器(1)、加热冷却计时器(7)及总老化时间计时器(28),所述温度控制器(1)用于设定所述精密热风烤箱(18)的温度,所述加热冷却计时器(7)用于设定试验品加热与冷却的时间,所述总老化时间计时器(28)用于设定整个老化试验所需时间。

关 键 词:烤箱 热风 计时器 控制系统  老化试验  精密  传输系统 温度控制器 加热冷却  老化时间  传感器 加热与冷却  测试平台  准确可靠  

IPC专利分类号:G01D18/00(20060101)

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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