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专利详细信息

砝码质量比较仪校准装置       

文献类型:专利

专利类型:实用新型

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN201420148143.2

申 请 日:20140328

发 明 人:唐守科 白圣达

申 请 人:沈阳龙腾电子有限公司

申请人地址:110000 辽宁省沈阳市沈北新区沈北路76-16号A2楼

公 开 日:20141008

公 开 号:CN203869768U

代 理 人:郑自群

代理机构:北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙)

语  种:中文

摘  要:本实用新型提出了一种砝码质量比较仪校准装置,解决了现有的校准装置较难操作,费时费力,成本较大,精确度较低的问题,包括:设置于框架四个端角处的调整装置,调整装置包括承重刀和带有2个安装孔的刀架,承重刀设置在安装孔之间,还包括分别设置在承重刀两侧的调整螺钉和与调整螺钉固定安装的调整块,调整块与承重刀抵接,调整螺钉的一端设置在安装孔内并可沿安装孔上下移动。本实用新型结构简单、操作方便,无需耗费较多的时间与人力,调试成本低,调节精度高,出厂后不需要进行二次调整。

主 权 项:1.砝码质量比较仪校准装置,安装于砝码质量比较仪的框架内,其特征在于,包括:设置于所述框架四个端角处的调整装置,所述调整装置包括承重刀和带有2个安装孔的刀架,所述承重刀设置在所述安装孔之间,还包括分别设置在所述承重刀两侧的调整螺钉和与所述调整螺钉固定在一起的调整块,所述调整块与所述承重刀抵接,所述调整螺钉的一端设置在所述安装孔内并可沿所述安装孔上下移动。

关 键 词:承重  安装孔  调整装置 螺钉 仪校准装置  螺钉固定 校准装置 砝码质量 刀架 端角处  二次  调试  两侧  

IPC专利分类号:G01G23/01(20060101)

参考文献:

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二级参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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