专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:实用新型
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN201921372496.X
申 请 日:20190822
申 请 人:中航捷锐(北京)光电技术有限公司
申请人地址:100089 北京市海淀区北四环中路238号柏彦大厦802-803室
公 开 日:20200619
公 开 号:CN210803655U
代 理 人:周秀珍
代理机构:11809 北京君至同辉知识产权代理事务所(普通合伙)
语 种:中文
摘 要:本申请公开了一种超辐射发光二极管芯片的筛选箱和筛选装置,以实现方便、快捷的对SLD芯片的性能进行测试,从而筛选出性能符合要求的SLD芯片。所述筛选箱,包括箱体和上盖,所述上盖上设置有充氮气口;所述箱体内设置一台体,所述台体上设置有温度调节部、光电探测器和温度传感器;所述箱体的侧壁上设置有用于与外部电路连接的接线端子;所述温度调节部、所述光电探测器和所述温度传感器与所述接线端子电性连接。
主 权 项:1.一种超辐射发光二极管芯片的筛选箱,其特征在于,包括箱体和上盖,所述上盖上设置有充氮气口;所述箱体内设置一台体,所述台体上设置有温度调节部、光电探测器和温度传感器;所述箱体的侧壁上设置有用于与外部电路连接的接线端子;所述温度调节部、所述光电探测器和所述温度传感器与所述接线端子电性连接。
关 键 词:光电探测器 温度传感器 温度调节部 接线端子 芯片 筛选箱 上盖 台体 超辐射发光二极管 充氮气口 电性连接 筛选装置 外部电路 侧壁 筛选 测试 申请
IPC专利分类号:G01R31/26(20140101);G01R31/28(20060101)
参考文献:
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二级参考文献:
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耦合文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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